以单根硅碳棒识别为例，进行计算说明。图中真实值与预测值同为16;8的矩阵，在真实矩阵和预测矩阵中值为1代表该张图片存在该类瑕疵。真实值矩阵与预侧值矩阵运算关系如表所示。

       分别记检准数量为AD.漏检数量为MD，多检数量为OD.并根据系统实际需求提出以下三种评价指标。

       (1)检准率:

       检准率定义为硅碳棒检测过程中，单根硅碳棒完全检测正确的概率，完全采集正确的数量包括有瑕疵且被完全检测出的数量和无瑕疵且被检测正确的数量.用来评价系统的瑕疵检测精度。具数值按照下式进行计算。

       (2)漏检率:

       漏检率定义为单根硅碳棒瑕疵检测中，实际存在瑕疵，但是未被系统检测出的概率。该标准直接关系到流出硅碳棒的品质，具体数值按照下式进行计算。

       (3)多检率

       过检率定义为单根硅碳棒瑕疵检测中，实际不存在瑕疵，但是被检测为瑕疵的概率。该标准对系统在生产过程中的实际生产效率进行评估，具体数值按照下式进行计算。

       检准率、多检率和漏检率三个指标是针对硅碳棒瑕疵检测系统检测效果所提出的评估指标，其中检准率越高时，说明系统检测精度越好，反之越差。多检率越高，说明通过视觉检测系统扣减合格产品的比例越大，会对从生产线生产效率产生较大影响，增加生产成本，故该值越低好。漏检率越低时.说明系统对产品检测质量把控较为严格，反之则较差。而在实际生产中往往更加注重漏检概率，因为漏检率直接关系到产品的质量。

       将所开发的硅碳棒瑕疵检测系统运行至实际现场进行运行测试，但是这一过程中，系统只进行预测，而不根据检测结果对PLC进行动作控制，即“只检不控”。在该过程中总计侧试硅碳棒数量为450根.其中各瑕疵类型分布如图5-14所示。

       部署过程中采用极大值抑制算法，对瑕疵进行预测，后将推理置信度设置为0.25，交并比设定为0.45，经过侧试，得到各瑕疵类型的各项指标参数如表所示。

       通过表5-4可以得到系统对于各类型瑕疵的检测效果，崩边、晶裂、水印、未磨到、线痕瑕疵检测检准率可以达到89/0以上，凹坑、亮点及污渍几种瑕疵检准率均在80%以上。一定程度上说明系统检测的准确率.但是由图5-14可以看出晶裂与线痕测试的数量为50以下，故在检准率计算中，对于这两个值稳定性存疑，但为保证完整性依旧沿用。但是对于崩边、水印及未磨到三种瑕疵检测效果较好。

       凹坑、亮点和污演多检率分别为10.2%.17%和2.4%，多检率较高，说明了在检测过程中，检测模型将其它特征误识为瑕疵特征。造成原因可能有:(1)瑕疵特征不明显、难以区分;(2)所含该类型瑕疵致量较少，未能充分提取瑕疵特征。但是，检洲系统对各类瑕疵的漏检率表现较好，该值说明满足工业生产中的硬性条件。

       以上，完成了硅碳棒瑕疵检测系统上线洲试的第一步，将置信度设定为0.25，进行识别效果的侧试。但是检测系统在部分瑕疵识别表现上较差，不能满足实际生产的需求，需要进一步进，同时，因为实际现场硅碳棒瑕疵收集较为困难，侧试过程中之共计测试了450根硅碳棒，检测具体指标值需要进一步确定.下面针对部分瑕疵多检率过高，检准率较低的问题对系统提出化，以进一步符合实际工程应用。52.http://www.zbqunqiang.cn/